Die EMV Konformität ist Voraussetzung für das Inverkehrbringen elektrischer/elektronischer Geräte. Vollständige und wiederkehrende EMV-Tests in einer Absorberhalle vom MHz- bis in den GHz-Bereich sind sehr zeitintensiv und zusammen mit den Kosten der Fehlerbehebung, Produkt-Redesigns ungemein teuer. Auch hier gilt: „Je später, desto teurer wird es.“ Wiederholungsprüfungen und deren Folgen für die Produktabnahme lassen sich deutlich reduzieren, wenn mit Softwarewerkzeugen rechtzeitig entsprechende Analysen durchgeführt und Designregeln eingehalten werden.
Mit dem regelbasierenden Software EMI Scanner von ANSYS SIwave wird das verdrahtete Leiterplattendesign basierend auf geometrische Designregeln hin analysiert. Die Software erkennt anhand der Regelsätze die häufigsten und schwerwiegendsten Ursachen für Störungen zwischen Signalleitungen, Spannungsflächen sowie Bauteilen, die zu kritischen elektromagnetischen Wechselwirkungen führen können. Expertenwissen aus dem Simulationsumfeld ist bei dieser Anwendung nicht erforderlich und durch die Vermeidung rechenintensiver Simulationsverfahren können mit diesem Ansatz auch komplexe Baugruppen vollständig analysiert werden. Über das Reziproktheorem wird zudem erstmalig auch die sogenannte Suszeptibilität-Analyse über das gesamte Board angeboten: „Was gut abstrahlt ist auch empfänglich.“
Im Webinar zeigen die Referenten die Arbeitsweise und Bedienung des regelbasierten EMI Scanners und führen eine Suszeptibilitäts-Analyse an einer komplexen Baugruppe durch. Ebenfalls werden optionale Full-Wave Analyse-Methoden vorgestellt, die Ihnen ein umfassendes Software-Paket zur effizienten Analyse und Behebung von EMV-Problemen auf Leiterplattenebene zur Verfügung stellen.
